Инфракрасный объектив для микроскопа Infra-SW series

машинного зрениядля обнаружениядля контроля

Коротковолновый инфракрасный (SWIR) диапазон длин волн предлагает уникальные преимущества визуализации по сравнению с видимыми и другими тепловыми диапазонами. Он незаметно завоевывает все большее место в промышленном машинном зрении для проверки электронных плат, сортировки материалов / продуктов питания, проверки солнечных элементов, проверки качества и в военных приложениях. Объективы SWIR используются там, где другие детекторы или камеры недостаточно чувствительны для распознавания конечных деталей. Коротковолновый инфракрасный (SWIR) свет представляет собой секунду электромагнитного спектра, обычно в диапазоне длин волн от 0.9 до 2.5 мкм (от 900 до 2500 нм) и поэтому невидим для человеческого глаза. Однако свет SWIR взаимодействует с объектами так же, как и видимые длины волн, поскольку фотоны отражаются самим объектом. Из-за своей отражающей способности SWIR-свет имеет контраст и тени на изображениях, которые он создает, что является необходимым требованием для изображений с высоким разрешением. SWIR отличается от средневолнового инфракрасного (MWIR) и длинноволнового инфракрасного (LWIR) света, который излучается объектом в виде теплового ИК-излучения (тепла) и, следовательно, имеет более низкое разрешение и показывает менее подробные изображения. Длины волн SWIR можно увидеть только такими датчиками, как арсенид индия-галлия (InGaAs). Изображения с датчиков InGaAs-камер сравнимы по детализации и разрешению с изображениями в видимом свете, но не в цвете. Это одно из многих преимуществ SWIR, поскольку оно позволяет легче распознавать объекты и идентифицировать их по отдельности.