Дифрактометр с рентгеновским излучением XRD-Y3000

XRD

Особенности -Идеальное сочетание аппаратных и программных систем удовлетворяет потребности ученых и исследователей в различных областях применения -Высокоточная система измерения угла дифракции позволяет получить более точные результаты -Высокая стабильность системы управления рентгеновским генератором позволяет получить более стабильную точность воспроизводимости -Программируемое управление, интегрированный дизайн структуры, простота эксплуатации, элегантный внешний вид Рентгеновская дифракция (XRD) - это универсальный инструмент для выявления кристаллической структуры и химической информации: -Неизвестные образцы в различных фазовых идентификациях -Смешанные образцы с известным количественным фазовым анализом -Анализ кристаллической структуры -Изменение кристаллической структуры в нетрадиционных условиях (высокотемпературные, низкотемпературные условия) -Анализ поверхностной пленки материала -Анализ текстуры и напряжения металлического материала Технические параметры Номинальная мощность: 3 кВт Напряжение трубки: 10-60 кВ Ток трубки: 5-80 мА Рентгенотрубка: стеклотрубка, керамическая трубка, пульсационная керамическая трубка: Cu, Fe, Co, Cr, Mo и т.д., Мощность 2 кВт Размер фокуса: 1 x 10 мм или 0,4 x 14 мм или 2 x 12 мм Стабильность: 0,01% Структура гониометра: Горизонтальная (8-2 8) Радиус дифракции: 185 мм Диапазон сканирования: 0-164 Скорость сканирования: 0.0012°- 70смин Макс. скорость вращения: 1007 мин Мода сканирования: 8-28 связей, 8. 28 одиночного действия; непрерывное или шаговое сканирование Точность повторения угла: 1/1000° Минимальный угол шага: 1/1000° Детектор пропорциональные счетчики (PC): или сцинтилляционные счетчики (SC) Максимальная скорость линейного счета: 5x105 CPS (с функцией компенсации выпадающего счета) Коэффициент энергетического разрешения; $25% (PC). 50% (SC) Мода счета: дифференциальный коэффициент или интегральный, PHA автоматически, регулировка мертвого времени