Ультрафиолетовый спектрометр Nexsa G2 XPS

с рентгеновским излучениемфотоэлектронных рентгеновских лучейдля сбора данных

Система рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (XPS) Thermo Scientific Nexsa G2 обеспечивает полностью автоматизированный, высокопроизводительный анализ поверхности, предоставляя данные для продвижения исследований и разработок или решения производственных проблем. Интеграция XPS со спектроскопией рассеяния ионов (ISS), УФ-фотоэлектронной спектроскопией (UPS), спектроскопией потерь энергии отраженных электронов (REELS) и спектроскопией комбинационного рассеяния света позволяет проводить настоящий корреляционный анализ. В систему добавлены опции нагрева и смещения образцов, что расширяет спектр возможных экспериментов. Система анализа поверхности Nexsa G2 раскрывает потенциал для достижений в материаловедении, микроэлектронике, нанотехнологиях и многих других областях. Особенности системы анализа поверхности Nexsa G2 Высокопроизводительный источник рентгеновского излучения Новая оптимизированная конструкция рентгеновского монохроматора позволяет выбирать область анализа от 10 мкм до 400 мкм с шагом 5 мкм, обеспечивая сбор данных с интересующего объекта при максимальном увеличении сигнала. Оптимизированная электронная оптика Высокоэффективная электронная линза, полусферический анализатор и детектор обеспечивают превосходную детектируемость и быстрый сбор данных. Просмотр образца XPS Выясните особенности образца с помощью запатентованной оптической системы просмотра Nexsa G2 Surface Analysis System и карты XPS SnapMap, которая помогает быстро определить интересующие вас области. XPS-анализ изоляторов Запатентованный двухлучевой источник наводнения объединяет низкоэнергетические ионные пучки с электронами очень низкой энергии (менее 1 эВ) для предотвращения зарядки образца во время анализа, что в большинстве случаев устраняет необходимость в привязке заряда.