Спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей Nexsa G2 XPS

для сбора данныхавтоматизированный

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с автоматическим анализом поверхности и возможностью использования нескольких методик. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия Система рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (XPS) Thermo Scientific Nexsa G2 обеспечивает полностью автоматизированный, высокопроизводительный анализ поверхности, предоставляя данные для продвижения исследований и разработок или решения производственных проблем. Интеграция XPS со спектроскопией рассеяния ионов (ISS), УФ-фотоэлектронной спектроскопией (UPS), спектроскопией потерь энергии отраженных электронов (REELS) и спектроскопией комбинационного рассеяния света позволяет проводить настоящий корреляционный анализ. В систему включены опции нагрева и смещения образцов, что расширяет спектр возможных экспериментов. Система анализа поверхности Nexsa G2 раскрывает потенциал для достижений в материаловедении, микроэлектронике, нанотехнологиях и многих других областях. Высокопроизводительный источник рентгеновского излучения Новый маломощный рентгеновский монохроматор позволяет выбирать область анализа от 10 мкм до 400 мкм с шагом 5 мкм, обеспечивая сбор данных с интересующего объекта при максимальном усилении сигнала. Оптимизированная электронная оптика Высокоэффективная электронная линза, полусферический анализатор и детектор обеспечивают превосходную детектируемость и быстрый сбор данных. Просмотр образцов Выясните особенности образца с помощью запатентованной оптической системы просмотра Nexsa XPS System и XPS SnapMap, которая помогает быстро определить интересующие вас области с помощью полностью сфокусированного XPS-изображения.