Спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей K-Alpha XPS
для оптикидля сбора данныхвысокая скорость

Спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей - K-Alpha XPS - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - для оптики / для сбора данных / высокая скорость
Спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей - K-Alpha XPS - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - для оптики / для сбора данных / высокая скорость
Спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей - K-Alpha XPS - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - для оптики / для сбора данных / высокая скорость - изображение - 2
Спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей - K-Alpha XPS - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - для оптики / для сбора данных / высокая скорость - изображение - 3
Спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей - K-Alpha XPS - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - для оптики / для сбора данных / высокая скорость - изображение - 4
Спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей - K-Alpha XPS - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - для оптики / для сбора данных / высокая скорость - изображение - 5
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
фотоэлектронных рентгеновских лучей
Область применения
для оптики, для сбора данных
Другие характеристики
высокая скорость, альфа
Длина волны

МИН.: 50 µm

МАКС.: 400 µm

Описание

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр для высокопроизводительного анализа поверхности. Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр K-Alpha Система рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (XPS) Thermo Scientific K-Alpha представляет собой новый подход к анализу поверхности. Ориентированная на получение высококачественных результатов с использованием оптимизированного рабочего процесса, система K-Alpha XPS делает работу с XPS простой и интуитивно понятной, без ущерба для производительности и возможностей. Современная производительность, снижение стоимости владения, простота использования и высокая пропускная способность образцов делают систему K-Alpha XPS идеальным решением для многопользовательской среды. Система K-Alpha XPS обеспечивает доступ к анализу поверхности для большего числа исследователей во всем мире. Особенности рентгеновского фотоэлектронного спектрометра K-Alpha Высокопроизводительный источник рентгеновского излучения Рентгеновский монохроматор позволяет выбирать область анализа от 50 мкм до 400 мкм с шагом 5 мкм, подстраивая ее под интересующий объект для максимизации сигнала. Оптимизированная электронная оптика Высокоэффективная электронная линза, полусферический анализатор и детектор обеспечивают превосходную детектируемость и быстрый сбор данных. Просмотр образцов С помощью запатентованной оптической системы просмотра K-Alpha XPS System и карты XPS SnapMap, которая помогает быстро определить интересующие вас области, можно сфокусировать характеристики образца. Анализ изоляторов Запатентованный двухлучевой источник наводнения объединяет низкоэнергетические ионные пучки с электронами очень низкой энергии (менее 1 эВ) для предотвращения зарядки образца во время анализа, что в большинстве случаев устраняет необходимость в привязке к заряду. Глубинное профилирование Выйдите за пределы поверхности с помощью источника ионов EX06. Автоматизированная оптимизация источника и обработка газа обеспечивают превосходную производительность и воспроизводимость эксперимента.

---

Каталоги

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.