Спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей K-Alpha XPS
для оптикидля сбора данныхальфа

спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей
спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей
спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей
спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей
спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей
спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
фотоэлектронных рентгеновских лучей
Область применения
для оптики, для сбора данных
Другие характеристики
высокая скорость, альфа
Длина волны

МАКС.: 400 µm

МИН.: 50 µm

Описание

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр для высокопроизводительного анализа поверхности. Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр K-Alpha Система рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (XPS) Thermo Scientific K-Alpha представляет собой новый подход к анализу поверхности. Ориентированная на получение высококачественных результатов с использованием оптимизированного рабочего процесса, система K-Alpha XPS делает работу с XPS простой и интуитивно понятной, без ущерба для производительности и возможностей. Современная производительность, снижение стоимости владения, простота использования и высокая пропускная способность образцов делают систему K-Alpha XPS идеальным решением для многопользовательской среды. Система K-Alpha XPS обеспечивает доступ к анализу поверхности для большего числа исследователей во всем мире. Особенности рентгеновского фотоэлектронного спектрометра K-Alpha Высокопроизводительный источник рентгеновского излучения Рентгеновский монохроматор позволяет выбирать область анализа от 50 мкм до 400 мкм с шагом 5 мкм, подстраивая ее под интересующий объект для максимизации сигнала. Оптимизированная электронная оптика Высокоэффективная электронная линза, полусферический анализатор и детектор обеспечивают превосходную детектируемость и быстрый сбор данных. Просмотр образцов С помощью запатентованной оптической системы просмотра K-Alpha XPS System и карты XPS SnapMap, которая помогает быстро определить интересующие вас области, можно сфокусировать характеристики образца. Анализ изоляторов Запатентованный двухлучевой источник наводнения объединяет низкоэнергетические ионные пучки с электронами очень низкой энергии (менее 1 эВ) для предотвращения зарядки образца во время анализа, что в большинстве случаев устраняет необходимость в привязке к заряду. Глубинное профилирование Выйдите за пределы поверхности с помощью источника ионов EX06. Автоматизированная оптимизация источника и обработка газа обеспечивают превосходную производительность и воспроизводимость эксперимента.

---

Каталоги

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.