Système optique для контроля поверхности ABIS II

ABIS II - Опознавание дефекта во время производственного процесса Большинство дефектов которые могут произойти во время производственного процесса незримо на ранних стадиях изготовления. Эти рассчитают поминутно поверхностные дефекты будут визуально уловимыми более поздно дальше, однако, когда были завершены последующие шаги работы как работа краски. На том состояния системы на определенный момент времени, их можно только исправить используя дорогие корректирующие измерения. Достиг высокого качества поверхности под аспектом оптимизации затрат, широкию диапазону типов дефекта нужно быть обнаруженными, что. Надежное и раннее выявление совмещенное с объективными оценкой и классифицированием дефектов, как вдавленные места, рему, метки раковины, waviness, сужения, отказы, etc., необходимо в виду того что цены извлекать эти дефекты увеличивают drastically с ходом работ внутри цикл продукции (магазин давления, магазин тела, красильная мастерская, окончательная сборка). Следовательно, в частности rework дефектов которые были распространены в течении производственного процесса образовывает существенный фактор относительно силы человека и времени. Он таким образом имеет значительное влияние на хозяйственной эффективности процесса производства. ABIS II оптически система датчика которая имеющаяся в различных версиях и принципиальные схемы система позволяет быстрой, надежно и ультра-точное обнаружение не только 3D изменяет на проверенной части (например вдавленных местах, рему, метках раковины, waviness, сужениях или отказах), но также сравнивать-чувствительных дефектов (например scrat¬ches, слипчивых выпарок, пыли и грязи) используя новый подъем датчика контраста. Требующий много времени и таким образом дорогее re¬work в последующих отростчатых шагах, например на пояс отделки, можно эффективно уменьшить.