Спектрометр XRF EDX4500A

для лабораторийдля измеренийдля металлургической промышленности

23-позиционная автоматическая роботизированная рука помогает проводить одновременные многоэлементные испытания с высокой пропускной способностью, что отвечает требованиям лабораторных испытаний неорганических элементов в различных отраслях промышленности. Можно измерять до 80 химических элементов, что позволяет удовлетворить потребности лабораторий различных отраслей промышленности в тестировании неорганических элементов. Рентгенофлуоресцентный спектрометр - это быстрый, точный и высокоэффективный неразрушающий аналитический прибор для определения различных элементов, основанный на принципе обнаружения XRF, при котором источник рентгеновских лучей возбуждает образцы, генерируя характерные флуоресцентные рентгеновские лучи для измерения. Главной особенностью прибора является высокая способность возбуждать легкие элементы Na, Mg, Ai, Si, P и S с помощью интеллектуальной вакуумной системы. С помощью технологии XRF можно точно проанализировать высокое содержание K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Mo, Zr, Ba и других ключевых элементов, представляющих интерес. Это значительно повышает эффективность обнаружения и экономит затраты на анализ, являясь непревзойденным оборудованием для контроля качества продукции на предприятиях по производству минералов, металлообработки и неорганических неметаллических материалов. В то же время 23-позиционная автоматическая роботизированная рука делает возможным высокопроизводительное последовательное одновременное тестирование образцов, что позволяет проводить тестирование после введения образцов с помощью одной кнопки без присмотра. Характеристики Высокоэффективная рентгеновская трубка с ультратонким окном, характеристики которой достигают международного уровня Новейшая цифровая многоканальная технология со скоростью счета 100000CPS, что делает испытание сплава более быстрым, точность выше, а эффект лучше Кремниевый дрейфовый детектор SDD, отличающийся хорошей линейностью энергии, энергетическим разрешением и спектральными характеристиками, а также высоким отношением пика к спину