Спектрофотометр UV-Vis-NIR SolidSpec-3700i

в отраженном светес приводомсо сферой

Обзор
SolidSpec-3700i и SolidSpec-3700i DUV — это УФ-ВИС-НИР спектрофотометры с тремя детекторами, покрывающими диапазон от ультрафиолета до ближнего инфракрасного. Приборы поставляются с программным обеспечением LabSolutions UV-Vis для управления и сбора данных. Вариант DUV расширяет возможности измерений в области глубокого ультрафиолета; доступна опция интегрирующей сферы для диффузного отражения и измерений в DUV. Большой отсек для образцов позволяет работать с различными и крупногабаритными образцами.

Основные характеристики

• Три детектора, покрывающие UV–NIR, обеспечивают непрерывное спектральное покрытие и уменьшают артефакты при переключении детекторов.
• Высокая чувствительность для точных измерений пропускания и отражения.
• Версия DUV (SolidSpec-3700i DUV) предназначена для приложений в области глубокого УФ.
• Большой отсек для образцов для кювет, ячеек и крупных или неформенных образцов без специальной подготовки.
• Опциональная интегрирующая сфера для измерений диффузного отражения и в глубоком УФ.

Применения

• Сравнение конфигураций с 2 и 3 детекторами.
• Высокоточные измерения пропускания и отражения с минимизированным шумом при переключении детекторов.
• Измерения в области глубокого ультрафиолета (DUV версия).
• Анализ драгоценных камней с комбинированным применением UV-Vis и EDX.
• Регуляторные спектральные оценки для очковых линз (например, JIS T7333).
• Подбор оптимальных растворителей и кювет для измерений в ближней ИК-области.

Загрузки

• Брошюра продукта: SolidSpec-3700i / SolidSpec-3700i DUV — UV-VIS-NIR спектрофотометры (PDF)
• Брошюра по аксессуарам: аксессуары серии UV-Vis (PDF)
• Дополнительные заметки по применению и технические документы (разные PDF)

Технические характеристики

• Конфигурация детекторов: три детектора, покрывающие ультрафиолет до ближнего инфракрасного.
• ПО: LabSolutions UV-Vis для управления, сбора и анализа данных.
• Диапазон длин волн: UV–NIR (DUV версия расширяет диапазон в область глубокого УФ).
• Отсек для образцов: большой формат для различных типов образцов и режимов измерения (пропускание, отражение, интегрирующая сфера).
• Опции: интегрирующая сфера для диффузных и глубокоуф измерений.