Зондовая плата Kelvin

Карты зондов Кельвина от Seiken специально разработаны для измерений с четырьмя выводами (соединение Кельвина), обеспечивая высокоточные испытания сопротивления для устройств. Независимо контролируя ток (силовая цепь) и напряжение (цепь измерения), измерения Кельвина эффективно устраняют влияние контактного сопротивления, точно фиксируя истинное сопротивление устройства (Rs). В измерениях Кельвина два вывода должны контактировать с одним электродом, таким как паяльный выступ или площадка. Карты зондов Кельвина от Seiken поддерживают измерения с мелким шагом, начиная с шагов электродов размером всего 0,35 мм. С возможностью уменьшения зазора между выводами до 0,1 мм, стабильный и надежный контакт достигается даже на ультра-малых электродах. (Патент № 5597108 распространяется на этот дизайн.) Seiken предлагает полную поддержку для специализированной платы, необходимой для зондов Кельвина. От проектирования индивидуальных креплений до полного производственного обслуживания, мы предоставляем комплексное решение, обеспечивая идеальное сочетание между вашей картой зонда и испытательным оборудованием для максимальной точности и эффективности. - Надежный контакт с малыми электродами: Разработан для современных миниатюрных технологий, обеспечивая стабильный контакт даже с ультра-малыми выступами размером всего φ180μm. - Гибкая компоновка выводов для тестирования нескольких чипов: Наслаждайтесь полной гибкостью проектирования — наши карты зондов Кельвина поддерживают компоновки от 100 до 1000 электродов на чип и позволяют одновременно тестировать несколько чипов. Все наши передовые карты зондов не имеют ограничений по расположению выводов, при условии соблюдения требований к шагу. - Легкое обслуживание с заменяемыми выводами: Поддержание максимальной производительности просто; наши карты зондов Кельвина позволяют легко заменять выводы, минимизируя время простоя и упрощая обслуживание — так же, как и наши передовые модели карт зондов. Пример применения: - Тестирование передней части полупроводников Связанные продукты: - Технология измерения Кельвина: Наши запатентованные зонды Кельвина позволяют проводить ультра-точные измерения низкого сопротивления на электродах с мелким шагом. С двойным точечным контактом на расстоянии всего 0,1 мм они обеспечивают стабильное соединение, превосходную долговечность и непревзойденную точность для устройств следующего поколения. - Сокеты IC Кельвина: Наши сокеты Кельвина поддерживают точные испытания низкого сопротивления с четырьмя выводами, даже для ультра-компактных чипов размером менее 1 мм. Разработаны для передовых технологий и высокоплотных ИС, они обеспечивают непревзойденную точность для ваших самых передовых приложений. - Держатели зондов (индивидуальные испытательные крепления): Также известные как блоки выводов, держатели зондов необходимы для точного зондирования в испытаниях электронных компонентов. Наши держатели зондов обеспечивают идеальное выравнивание и стабильный контакт — независимо от того, используете ли вы стандартные форматы или нуждаетесь в полностью индивидуальном дизайне. Технические характеристики / Особенности: - Возможность измерения с четырьмя выводами (соединение Кельвина) - Устраняет контактное сопротивление для точного измерения сопротивления устройства - Поддерживает измерения с мелким шагом от 0,35 мм шага электродов - Зазор между выводами может быть уменьшен до 0,1 мм для ультра-малых электродов - Патент № 5597108 - Гибкая компоновка выводов: 100–1000 электродов на чип, поддерживается тестирование нескольких чипов - Заменяемые выводы для легкого обслуживания - Доступен индивидуальный дизайн и производство креплений