Тестовый разъем QFN

WLCSPQFPSOP

Немагнитные IC-розетки Seiken разработаны для обеспечения стабильного, свободного от помех тестирования на широком спектре упаковок устройств, включая типы с выводами, без выводов и с шариковыми контактами. Даже для чрезвычайно маленьких микросхем, включая те, что меньше 1 мм², эти розетки обеспечивают точный и надежный контакт, поддерживая точность даже в магнитно-чувствительных средах. Благодаря гибкому, высокоадаптивному дизайну, немагнитные розетки подходят для устройств практически любой формы и размера, минимизируя влияние магнитных полей и максимизируя производительность тестирования. - Основные характеристики и преимущества: - Достигайте высокоточного, немагнитного тестирования: Используя специально отобранные немагнитные материалы по всей структуре розетки, Seiken значительно снижает внешние магнитные помехи, делая эти розетки идеальными для приложений, требующих бескомпромиссной точности измерений. Особенно подходят для тестирования чувствительных компонентов, таких как электронные компасы, Hall IC и датчики MR/MI. - Гибкая поддержка устройств с мелким шагом и специальных устройств: Продвинутые массивы контактных штырей обеспечивают безопасный, точный контакт даже для устройств с мелкими шагами и нестандартными компоновками. Проверенная история включает поддержку устройств размером менее 1 мм². - Индивидуальные решения — от проектирования до сборки: Seiken обрабатывает каждый этап процесса внутри компании — от начального проектирования до производства и окончательной сборки, обеспечивая постоянное качество и строгий контроль над каждой деталью. Каждая розетка адаптирована к спецификациям устройства и среде тестирования. - Доступно производство прототипов и малых партий: Независимо от того, разрабатываете ли вы прототипы или готовитесь к малосерийному производству, Seiken предлагает гибкое производство малых партий, начиная с одной единицы. Стремится поддерживать индивидуальные, изготовленные на заказ IC-розетки, которые соответствуют точным потребностям. - Примеры применения: - Точное тестирование электронных компасов - Оценка характеристик Hall IC - Тестирование магнитного влияния датчиков MR/MI - Высокоточные проверки, чувствительные к магнитным полям - Поддерживаемые типы упаковок: SOP, QFP, SON, QFN, LGA, BGA, WLCSP и другие - Связанные продукты: - Немагнитная технология: Немагнитные зонды, изготовленные из специализированных сплавов с низкой намагниченностью для минимизации помех. Идеально подходят для датчиков Холла, устройств MR/MI и других компонентов, чувствительных к магнитным полям. - Немагнитная зондовая карта: Изготовлена из немагнитных материалов, обеспечивая точные, свободные от помех измерения в средах, где магнитные поля должны быть устранены. - Держатели зондов (индивидуальные тестовые приспособления): Необходимы для точного зондирования при тестировании электронных компонентов. Обеспечивают идеальное выравнивание и стабильный контакт, будь то использование стандартных форматов или полностью индивидуальный дизайн. - Технические характеристики / Особенности: - Немагнитная конструкция для снижения магнитных помех - Поддерживает упаковки устройств с выводами, без выводов и с шариковыми контактами - Совместим с чрезвычайно маленькими микросхемами (менее 1 мм²) - Гибкий, индивидуальный дизайн для различных форм и размеров - Доступно производство прототипов и малых партий - Применения: электронные компасы, Hall IC, датчики MR/MI и другие - Поддерживаемые типы упаковок: SOP, QFP, SON, QFN, LGA, BGA, WLCSP и т.д.