Программное обеспечение для спектрофотометра Total F+

для управлениястатистического анализадля интерфейса

Total Color F+, программное обеспечение для спектрофотометрических измерений, анализирует и моделирует произведенные в вакууме оптические тонкие пленки для проверки качества AR (антирефлексивных) покрытий на предприятии. Мощный инструмент для повышения эффективности AR-покрытий Total Color F+ оснащен простым в использовании интерфейсом, который упрощает управление измерениями тонких пленок. Простота проведения регулярных проверок качества и составления статистических отчетов, которые помогают сократить время установки покрытий, поддерживать оборудование в отличном состоянии и обеспечить высочайшее качество покрытия. Простое в использовании программное обеспечение, позволяющее считывать данные непосредственно с любого спектрофотометра Снимает высокоточные абсолютные измерения отражения и передачи Преобразование абсолютных измерений в координаты CIELAB для точного определения цвета Рассчитывает показатель преломления, физическую толщину и коэффициент оснастки отдельных слоев Изменение и создание спецификаций для каждого покрытия с помощью редактора списка покрытий Ручное моделирование слоев покрытия Системные требования: - ПК с операционной системой Microsoft Windows 7, Windows 10 32/64бит. Последовательный порт RS-232 (совместимый с UART 16550) для подключения Perkin Elmer Порт USB для UV* соединения MS-400-C*/MS-400-C привод CD-ROM (для установки) USB-порт для аппаратного ключа программной защиты Принтер Поддерживаемые спектрофотометры - МС-400-К*, МС-400-К-В* Перкин Элмер Лямбда 12, 20 и 25 * Волоконно-оптические портативные приборы