Климатическая камера SM-500-2P-A/B

для испытания на морозоустойчивостьдля быстрого изменения температурыс тепловым ударом

Двухзонная камера испытания на тепловой удар Краткое введение: Высокотемпературная и низкотемпературная (два бокса) структура камеры испытания на тепловой удар может быть разделена на две части. А именно: высокотемпературный бак (зона предварительного нагрева), криогенный бак (зона предварительного охлаждения). Принцип испытания Принцип испытания в основном через управление портативной корзиной (тестовые образцы округа) для быстрого перемещения между криогенным баком и высокотемпературным баком для достижения быстрого теста на тепловой удар. Весь процесс тестирования испытуемых образцов вместе с мобильной гондолой двигаться вместе. Шабер подходит для проверки всего набора изделий, компонентов, деталей и материалов, подверженных резким изменениям температуры. Температурная испытательная камера используется в кратчайшие сроки для оценки образцов в результате теплового расширения и сжатия, вызванного изменениями химического или физического повреждения. Преимущество продукта: 1.Температура и влажность установки защиты 2.Двухзонная камера для испытаний на тепловой удар. Область испытания (образец), приводимая в действие давлением воздуха 3.Ошибка при выходе из строя хрящевой прибор таблицы медицинской записи 4.HFC экологически чистый хладагент, пластинчатый теплообменник SWEP, двух типовая система охлаждения 5.Оптимальная структура и конструкция высокоэффективного холодильного оборудования 6.Воздухозаборники и воздухозаборники с сенсорным управлением 7.Северный клапан, Кинетическая энергия автоматического управления нагрузкой 8.Диапазон испытаний: 150(60)℃~ (-10)-65℃ 9.50% эффективность энергосбережения и автоматическое сервоуправление 10.Совместимость с системой удаленного мониторинга BUS CM 11.Может расшириться: LN2V устройство контроля быстрого охлаждения жидким азотом LN2V 12.Время движения камеры испытания на тепловой удар составляет 10 секунд и может соответствовать стандартам МИГ, МЭК и JIS.