Камера для полупроводниковой пластины

машинного зренияинфракраснаяInGaAs

Коротковолновые инфракрасные SWIR-камеры InGaA обеспечивают разрешение 640x512 с откликом до 1,7 мкм. SWIR-камера высокого разрешения может использоваться в самых различных областях, включая профилирование лазерного луча, контроль полупроводников, получение гиперспектральных изображений, оперативное управление технологическим процессом, формирование изображений уровня низкой освещенности и экранирование солнечных элементов. Для экранирования солнечных элементов дефекты на ранней стадии обработки могут быть визуализированы через объемный кремний благодаря его прозрачности на длинах волн более 1,1 мкм. На нарезанных пластинах открываются трещины, мертвые или слабые места, что позволяет автоматически сортировать и выбирать лучшие куски. Наконец, камера фиксирует слабые электролюминесценции (EL) и фотолюминесценции (PL) от отдельных фотогальванических элементов, которые прямо пропорциональны их эффективности SWIR-камеры Photonic Science высокого разрешения могут поставляться с современной SWIR-оптикой, которая обеспечивает более высокое разрешение / контрастную модуляцию и меньшее искажение, чем обычная NIR-оптика, используемая с обычными ПЗС-камерами Основные характеристики - 14-разрядная оцифровка / 16-разрядная обработка изображений - Считайте шум - обычно до 200 кадров в секунду - С регионом интереса ROI - Отличная линейность - Реакция на изменение интенсивности и/или воздействия - Gigabit Ethernet & Camera Link интерфейс - Опция ПО - Комплект SDK, Labview VI