Объектив для микроскопа с постоянным фокусным расстоянием
для контроля поверхностидля метрологиидля проверки материалов
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
Тип
с постоянным фокусным расстоянием
Техническое применение
для метрологии, для контроля полупроводников, для проверки материалов, для контроля поверхности, для производственной линии, для измерения шероховатости поверхности
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.