Дифрактометр XRD Wafer XRD 300

для лабораторий

Ваше интегрируемое решение для ориентации пластин Мощь автоматизации вашего предприятия сочетается с нашей технологией рентгеновской дифракции нового поколения. Wafer XRD 300 - это сверхбыстрый, высокоточный метрологический модуль для ориентации кристаллов и контроля геометрии пластин. Познакомьтесь с Wafer XRD 300: высокоскоростной рентгенодифракционный модуль для производства 300-миллиметровых пластин, предоставляющий ключевые данные по целому ряду важных параметров, таких как ориентация кристаллов и геометрические характеристики, например выемки, плоскости и многое другое, - разработанный для того, чтобы органично вписаться в вашу технологическую линию. Характеристики и преимущества Сверхбыстрая точность благодаря нашей запатентованной технологии сканирования Используемый метод требует только одного вращательного сканирования для сбора всех необходимых данных для полного определения ориентации кристалла, что обеспечивает высокую точность при очень малом времени измерения - в пределах нескольких секунд. Полностью автоматизированная обработка и сортировка Wafer XRD 300 разработан для максимального увеличения пропускной способности и производительности. Полная интеграция в систему автоматизации обработки и сортировки делает его мощным и эффективным дополнением к вашему процессу. Полностью автоматизированная обработка и сортировка Простое подключение Мощная автоматизация Wafer XRD 300 легко вписывается в новый или существующий процесс, поскольку она совместима как с MES, так и с интерфейсами SECS/GEM. Высокая точность, более глубокое понимание Поймите свои материалы как никогда раньше благодаря ключевым измерениям Wafer XRD 300, включая: Ориентация кристаллов Положение, глубина и угол раскрытия надреза Диаметр Положение и длина плоской поверхности Дополнительные датчики доступны по запросу Типичное стандартное отклонение наклона (пример: Si 100) для азимутального сканирования составляет <0,003o.