Программное обеспечение изображения LAS X Materials Science Modules
для металлической конструкциидля микроскопаWindows

программное обеспечение изображения
программное обеспечение изображения
программное обеспечение изображения
программное обеспечение изображения
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Функция
изображения
Применение
для металлической конструкции, для микроскопа
Рабочая система
Windows

Описание

Программное обеспечение Leica Application Suite X (LAS X) было разработано с акцентом на удобство использования. Оно было разработано для того, чтобы провести вас через любой тип рабочего процесса с помощью пояснительного пользовательского интерфейса и прямой навигации. Основные возможности LAS X могут быть расширены с помощью ряда продвинутых модулей и приложений для формирования мощной среды визуализации микроскопических изображений. Каждый модуль LAS X обеспечивает гибкость в настройке системного решения в соответствии с индивидуальными потребностями пользователей. Программное обеспечение LAS X Grain Expert: Превосходная точность и воспроизводимость при анализе зерна Модуль LAS X Grain Expert обеспечивает среду, позволяющую пользователям быстро выполнять структурный анализ стали и других материалов. Множество структур и типов образцов могут быть изучены с помощью высокоточных алгоритмов обнаружения кромок. Этот программный модуль также включает в себя традиционные стереологические методы, такие как линейный перехват Хейна, планариметрический Джеффриса и процедуру Abrams 3-Circle. Эти методы применяются автоматически, что приводит к прямому расчету размера зерна. В то время как традиционные стереологические методы страдают от 1-мерного подхода к приблизительному размеру зерен, LAS X Grain Expert применяет специальные 2-мерные алгоритмы для прямого измерения площади зерен. Этот исключительный подход обеспечивает более высокую точность по сравнению с традиционными, нецифровыми методами. LAS X Grain Expert охватывает несколько международных стандартов для металлографического гранулометрического анализа, таких как ASTM E112, DIN/EN/ISO 643, ГОСТ 5639 и JIS G0551.

---

Каталоги

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

BIEMH 2024
BIEMH 2024

3-07 июн. 2024 Bilbao (Испания) Зал 3 - Стенд D-43

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.