Прибор CellaCrystal PX 44 был разработан для оптического измерения температуры при производстве кристаллов Si и SiC. Калибровка специально адаптирована к процессу роста. Благодаря гибридной оценке сигнала с постоянно высоким разрешением < 0,1 К во всем диапазоне измерений и очень высокой долговременной стабильности благодаря технологии однородного светочувствительного элемента этот прибор отвечает высоким требованиям к требуемой точности измерений.
Особенности:
Диапазон измерений от 750 до 3 000 °C
PX 44 AF 4: специальная калибровка для производства кристаллов кремния
PX 44 AF 4: специальная калибровка для производства карбида кремния
гибридная оценка сигнала для высокого метрологического разрешения
высокая долговременная стабильность благодаря минимальному саморазогреву
фокусируемая линза для точной настройки расстояния измерения
стандартная функция: Интерфейс IO-LINK и аналоговый выход
---