Анализатор толщины покрытия FT160 Series

сплаванастольныйРентгенофлуоресцентный

Быстрый и точный анализ наноразмерных покрытий Настольный XRF-анализатор FT160 предназначен для измерения мельчайших особенностей, встречающихся на современных печатных платах, полупроводниках и микроразъемах. Возможность точного и быстрого измерения мельчайших особенностей помогает повысить производительность и избежать дорогостоящей доработки или брака компонентов. Поликапиллярная оптика FT160 позволяет измерять покрытия в масштабе нм на элементах размером менее 50 мкм, а передовая технология детектора обеспечивает высокую точность при сохранении короткого времени измерения. Другие особенности, такие как большой стол для образцов, широко открывающаяся дверь, камера для образцов высокой четкости и значительное окно для наблюдения, позволяют легко загружать образцы разного размера и находить интересующую область на большой подложке. Простой в использовании, этот анализатор легко интегрируется в ваш процесс QA / QC, предупреждая вас о проблемах до того, как они станут кризисом. Разработанный для анализа микроспотов и ультратонких покрытий, оптический прибор FT160 и технология детектора оптимизированы для работы с мельчайшими элементами. Большое смотровое окно для просмотра анализа с безопасного расстояния Методы измерения соответствуют стандартам ISO 3497, ASTM B568 и DIN 50987 Тестовая отделка для соответствия стандартам IPC-4552B, IPC-4553A, IPC-4554 и IPC-4556 Автоматизированное расположение элементов для быстрой настройки образца Выбор конфигурации анализатора, оптимизированной для вашего приложения Измерение покрытий в масштабе нм на элементах размером менее 50 мкм Вдвое большая производительность анализа по сравнению с обычными приборами Вмещает большие образцы самых разных форм Надежная конструкция, проверенная для длительного производственного использования