При производстве солнечных панелей из Si напряжение в кристаллах Si часто остается необнаруженным в течение длительного времени. Компания Hinds Instruments разработала прибор для измерения двулучепреломления под напряжением для измерения слитков Si, квадратных или выращенных, перед их распиловкой на пластины. При использовании этого прибора в качестве инструмента контроля качества можно выявить некачественные слитки или сегменты Si до того, как будут понесены последующие затраты на обработку. Кроме того, этот инструмент предоставляет производителям кристаллов Si инструмент, с помощью которого можно улучшить качество слитков Si, чтобы они могли производить более тонкие пластины с низкой механической потерей выхода.
Система измерения двулучепреломления в ближней инфракрасной области Exicor® 500 Si Ingot компании Hinds Instruments является продолжением рабочей платформы семейства систем измерения двулучепреломления Exicor. В этой системе используются высококачественные симметричные фотоупругие модуляторы, лазер с длиной волны 1550 нм и детектор на лавинном фотодиоде Ge, что позволяет проводить высокоточные измерения двулучепреломления для материалов Si, используемых в фотогальванической и полупроводниковой промышленности. Помимо Si, с помощью этой системы можно измерять такие материалы, как сапфир, карбид кремния, селенид цинка, сульфид кадмия. Модель 500 Si Ingot надежна и универсальна, она создана для удержания и измерения сырого слитка длиной 500 мм и диаметром до 8 дюймов. Конструкция системы и интуитивно понятное программное обеспечение для автоматического сканирования делают этот продукт лучшим выбором для улучшения качества материалов, научно-исследовательских работ и ежедневной оценки сырых слитков Si, а также других высокотехнологичных материалов.
Особенности:
Беспрецедентная чувствительность при измерении двулучепреломления низкого уровня
Одновременное измерение величины и угла двулучепреломления
Прецизионная повторяемость
---