Флуоресцентный спектрометр X-RAY 5000

EDXRFдля процесса

РЕНТГЕНОВСКИЙ СНИМОК 5000 FISCHERSCOPE® система флуоресцирования рентгеновского снимка (XRF) измеряя конструированная для постоянн встроенных анализа и измерения тонких покрытий. Он изготовлен с трубой пропорционального счетчика и датчиком смещения кремния. Блок можно быстро и легко откалибрировать во время производственных процессов и может получить измерения даже на горячих материалах до 500°C. Характеристики • Головка фланца измеряя для непрерывных измерений в производственных линиях • Пропорциональная лампа счетчика, peltier-охлаженный диод PIN кремния или детектор смещения кремния как детектор рентгеновского снимка • Быстрая и легкая тарировка на оригинале workpiece сразу в производственном процессе • Для пользы в воздухе или вакууме • Позволяет измерениям даже на очень горячих материалах субстрата до 500° c (930° f) • Конструкция сфокусирована на максимальных робастности и сервисопригодности Типичные сферы применения • Photovoltaics (CIGS, Снг, CdTe) • Анализ тонких покрытий на прокладке металла, фольгах металла и полиэтиленовых пленках • Непрерывное производство • Процесс контроля sputter и гальванизируя производственные линии • измерение Больш-зоны