Зондовая плата HFTAP Series

Лучшая в отрасли производительность продукта HFTAP K32 присоединяется к серии плат пробников для высокочастотного тестирования компании FormFactor, включая K10, K16 и K22, используемых для тестирования устройств DRAM 1,0 ГГц, 1,6 ГГц и 2,2 ГГц. Передовая технология печатных плат, предлагаемая исключительно компанией FormFactor, обеспечивает самую быструю связь между тестируемым устройством (DUT) и автоматизированным испытательным оборудованием (ATE). Благодаря использованию матричной архитектуры компании FormFactor, платы датчиков HFTAP K32 могут проводить испытания на скоростях, которых не может достичь ни один другой полный контактный модуль для пластин. Расширенные возможности архитектуры контактных плат HFTAP K32 компании FormFactor позволяют заказчикам DRAM проводить скоростные испытания на уровне пластин до 3,2 ГГц/ 6,4 Гбит/с для памяти нового поколения с известными хорошими матрицами (KGD). Недавнее повсеместное внедрение в промышленности гетерогенных интегрированных систем, обеспечиваемое передовыми технологиями упаковки 2,5D и 3D, стимулирует спрос на KGD. Преимущество тестирования KGD заключается в том, что конечная упаковка, собранная в стек, не будет отбракована из-за одного плохого чипа. Эта передовая архитектура зондовых плат MEMS используется для проверки электрических характеристик и выхода продукции не только для отдельных чипов, но и для устройств, используемых в стеке HBM, включая интерпозер с мелким шагом для обеспечения работоспособности всего пакета. Решение HFTAP K32 probe card позволяет клиентам получить больше информации на любом этапе процесса интеграции гетерогенных компонентов для передовых пакетов, где традиционный способ оптимизации выхода на монолитной кремниевой матрице уже не является достаточным. Решения HFTAP для плат-зондов доступны на более низких скоростях в зависимости от требований устройства.