ОбзорПрофилометры луча Edmund Optics® предназначены для измерения широкого диапазона размеров лазерного пучка и предоставления данных для оптимизации работы лазерных систем. Они объединяют высокоразрешающие и крупноформатные датчики для точного профилирования как малых, так и больших пучков. Доступны несколько размеров датчиков; корпуса имеют резьбу 1" x 32 TPI (C‑Mount) для интеграции с оптикой. Вход внешнего триггера обеспечивает синхронизацию с импульсными лазерами, интерфейсы USB 2.0/3.0 поддерживают быструю передачу данных.
Ключевые характеристики- Высокое разрешение для точных измерений малых пучков
- Варианты крупноформатных датчиков для больших пучков
- Внешний триггер для синхронизации с импульсными лазерами
- Совместимость с USB 2.0 и USB 3.0
- Резьба 1" x 32 TPI (совместима с C‑Mount) для стандартного крепления
- В комплекте программное обеспечение для анализа с отображениями 2D, 3D и XY
- Инструменты ПО: вычитание фона и гауссово приближение
Детали продукта (пример: Edmund Optics Beam Profiler 4M)Диапазон длин волн (нм): 350 - 1150
Требования к входному пучку: минимум 55 μm (10 x 10 пикселей)
Область детектирования H x V (мм): 11.3 x 11.3
ПО: USB в комплекте; интуитивное ПО для анализа пучка с 2D/3D/XY отображениями, вычитанием фона и гауссовой подгонкой
ПримечанияДрайверы ПО доступны для скачивания с сайта производителя. Продукты совместимы с LabVIEW.
Технические характеристики- Диапазон длин волн (пример модели): 350–1150 нм
- Минимальный измеряемый размер пучка (пример): ~55 μm (10 x 10 пикселей)
- Область детектирования (пример): 11.3 x 11.3 мм
- Крепление: резьба 1" x 32 TPI (совместима с C‑Mount)
- Триггер: вход внешнего триггера для импульсных лазеров
- Интерфейс: поддержка USB 2.0 и USB 3.0
- ПО: анализ с 2D/3D/XY отображениями, вычитание фона, гауссовая подгонка
- Доступные размеры: несколько вариантов размеров датчиков для покрытия малых и больших пучков