Объектив для микроскопа с линейной разверткой LS16-P series

для обнаружениядля идентификациивысокое разрешение

КОАКСИАЛЬНАЯ ЛИНЗА ЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ С ПОДСВЕТКОЙ Предназначен для коаксиальной системы освещения Избегайте снижения разрешения, вызванного использованием расщепителя луча Достижение требований к обнаружению высокое разрешение и высокая контрастность 16K / 5 μ и совместим с 16K / 3,5 μ и 12K / 5 μ камерами линейного сканирования С 30 * 80 мм разветвителем луча Сверхнизкое оптическое искажение, менее 0,001%, или 1 пиксель Большая апертура, ФНО. 3.8 ПРИМЕНЕНИЕ Дефекты/пятна Проверка наличия дефектов/пятен на стальных пластинах Электронные детали Выявление наличия / определение классификации Определение количества микрочипов и маркировка дефектов Дефект / пятно Обнаружить дефекты камеры Электронное оборудование Выявить наличие / Определить классификацию Обнаружение плохого скрепления и обрыва проводов провод двигателя