Пинцет NanoTracker 2

Пинцет - NanoTracker 2 - Bruker Handheld XRF Spectrometry
Пинцет - NanoTracker 2 - Bruker Handheld XRF Spectrometry
Пинцет - NanoTracker 2 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - изображение - 2
Пинцет - NanoTracker 2 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - изображение - 3
Пинцет - NanoTracker 2 - Bruker Handheld XRF Spectrometry - изображение - 4
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Описание

Модульный оптический пинцет с датчиком силы и платформа для оптических ловушек NanoTracker 2 - это оптическая пинцетная платформа, созданная на основе инвертированных оптических микроскопов исследовательского класса и предназначенная для проведения чувствительных экспериментов по манипулированию, силовому воздействию и отслеживанию. С помощью NanoTracker 2 пользователь может захватывать и отслеживать частицы размером от нескольких мкм до 30 нм с возможностью контролировать, манипулировать и наблюдать за образцами в режиме реального времени с нанометровой точностью и фемтоньютоновским разрешением. Точная оптическая ловушка и 3D-манипуляция Улавливайте и отслеживайте частицы размером от нескольких мкм до 30 нм: Бисер, пузырьки масла, бактерии, одиночные молекулы и мелкие клетки. Для изучения живых клеток и материаловедения. Точные измерения силы Количественные измерения силы в субпН и отслеживание положения при частоте дискретизации МГц. Сверхстабильный лазер с длиной волны 1064 нм. Сочетание с конфокальной микроскопией Сочетание со стандартными оптическими микроскопами, АСМ и Раман-спектроскопией. Одновременный оптический треппинг, отслеживание и расширенное флуоресцентное исследование. С помощью NanoTracker 2 пользователь может захватывать и отслеживать частицы размером от нескольких мкм до 30 нм, контролируя, манипулируя и наблюдая за образцами в режиме реального времени с нанометровой точностью и фемтоньютоновским разрешением. Технология NanoTracker обеспечивает точные количественные и воспроизводимые измерения взаимодействия частиц с клетками. Система предоставляет точную информацию о механике отдельных молекул и может быть использована для определения механических характеристик, таких как адгезия, эластичность или жесткость отдельных молекул. Новая система предназначена для обнаружения мельчайших сил и манипулирования частицами или молекулами с высочайшей точностью.

---

ВИДЕО

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Bruker Handheld XRF Spectrometry
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.