Инфракрасный спектрометр Glacier® X
UV-visNIRCzerny-Turner

инфракрасный спектрометр
инфракрасный спектрометр
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
инфракрасный, UV-vis, NIR, Czerny-Turner, UV-Vis-NIR
Область применения
для лабораторий, для процесса, для измерений, быстрый, для спектроскопии, OEM, с внутренним охладителем, для наблюдения
Конфигурация
компактный, модульный
Тип детектора
CCD
Другие характеристики
USB
Длина волны

МАКС.: 1 050 nm

МИН.: 200 nm

Описание

Спектрометр ПЗС с охлаждением по технологии TE Glacier® X - это спектрометр с TE-охлаждением, обладающий высоким динамическим диапазоном, значительно сниженным количеством темноты и превосходной долговременной стабильностью работы, что делает его идеальным для обнаружения низких уровней освещенности и долговременного мониторинга. Компактные размеры TE-спектрометра с охлаждением Glacier X делают его идеальным решением для приложений, требующих высокой производительности и портативности. Он оснащен линейной ПЗС-матрицей 2048 элементов, встроенным 16-разрядным дигитайзером и высокоскоростным интерфейсом USB 2.0. По сравнению с неохлаждаемыми ПЗС-спектрометрами, миниатюрный спектрометр Glacier X обеспечивает более высокий динамический диапазон, значительное снижение темных отсчетов и превосходную базовую стабильность, что делает его идеальным спектрометром для обнаружения низких уровней освещенности и долговременного мониторинга. Комбинированное охлаждение и регулирование температуры, а также компактный форм-фактор делают спектрометр с охлаждением Glacier TE Cooled излюбленным выбором системных интеграторов OEM-производителей. Охлаждение ТЭ позволяет интегрировать слабые сигналы, такие как флуоресценция и рамановский свет, в течение достаточного времени для накопления измеряемых сигналов для обнаружения, что приводит к гораздо лучшему соотношению сигнал/шум. Glacier® X идеально подходит для большинства ультрафиолетовых, визуальных и БИК-приложений с спектральными конфигурациями от 200 нм до 1050 нм и разрешением от 0,2 нм до 4,5 нм. Пользовательские конфигурации доступны для приложений OEM-производителей. Приложения: УФ, Виза и БИК: Спектроскопия / Спектрорадиометрия / Спектрофотометрия Передача, отражение, поглощение флуоресцентная спектроскопия Идентификация длины волны OEM-системная интеграция Доступные аксессуары включают в себя - Источники света - оптоволоконные датчики

---

Каталоги

B&W Tek OEM Systems Catalog
B&W Tek OEM Systems Catalog
18 Страницы

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

ACHEMA 2024
ACHEMA 2024

10-14 июн. 2024 Frankfurt am Main (Германия)

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.