Спектрометр оптический с диффузным уменьшением светового потока Exemplar® Plus LS
флуоресцентныйCzerny-TurnerUV-Vis-NIR

спектрометр оптический с диффузным уменьшением светового потока
спектрометр оптический с диффузным уменьшением светового потока
спектрометр оптический с диффузным уменьшением светового потока
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
оптический с диффузным уменьшением светового потока, флуоресцентный, Czerny-Turner, UV-Vis-NIR
Область применения
для процесса, для анализа, для использования в промышленности, для научных исследований, для контроля качества, для использования в биофармацевтике, для спектрального анализа, для OEM, флуоресцентный, для микроспектроскопии
Конфигурация
компактный, модульный
Тип детектора
CCD
Другие характеристики
высокой чувствительности, USB, многоканальный, сетевой, высокая скорость, с полным спектром
Длина волны

МИН.: 180 nm

МАКС.: 1 100 nm

Описание

Exemplar® Plus LS - это высокоэффективный интеллектуальный спектрометр, использующий аберрационно-корректированную вогнутую голографическую решетку для эффективного устранения рассеянного света. Он оснащен высокочувствительным ПЗС-детектором с ТЭ-охлаждением (BT), который линейно суммируется для высокого динамического диапазона. Его длинное фокусное расстояние в сочетании с детектором с высокой квантовой эффективностью обеспечивает превосходное качество данных во всем 180-1100нм спектральном диапазоне. Exemplar Plus LS отличается высоким отношением сигнал/шум, что делает его идеальным для применения в условиях низкой освещенности, особенно в ультрафиолетовом диапазоне. Он также имеет встроенный затвор, позволяющий проводить измерения в темноте даже при освещении. Являясь частью продуктовой линейки Exemplar, он оснащен встроенной обработкой данных и интерфейсом USB 3.0. Линейка продуктов Exemplar оптимизирована для многоканальной работы, характеризуется сверхнизкой задержкой срабатывания и джиттером затвора. Стандартные спектральные конфигурации варьируются от 180 нм до 1100 нм с разрешением от 0,6 нм до 6,0 нм. Пользовательские конфигурации доступны для OEM-приложений. Заявления: Ультрафиолетовый, видимый и ближний инфракрасный спектр (БИК): спектроскопия / спектрорадиометрия / спектрофотометрия флуоресцентная спектроскопия спектроскопия поглощения Измерения освещенности Мониторинг процесса в режиме реального времени Измерение на ЖК-дисплее Биомедицинская спектроскопия Солнечное моделирование OEM-системная интеграция

---

Каталоги

B&W Tek OEM Systems Catalog
B&W Tek OEM Systems Catalog
18 Страницы

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

ACHEMA 2024
ACHEMA 2024

10-14 июн. 2024 Frankfurt am Main (Германия)

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.