Микроскопы для испытания материалов Leica

Стать участником выставки

{{>currencyLabel}}
- Обратно

Русский
- Обратно
- English
- Français
- Español
- Italiano
- Deutsch
- 中文
- 日本語
- português

Ваши недавние запросы Удалить

Частые запросы

Рекомендации

Другие разделы

Искать {0} в каталогах

Марки, содержащие {0}

презентуйте свою продукцию

＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки

<12

ВАШЕ МНЕНИЕ

Оцените качество предлагаемых результатов:

С DirectIndustry Вы можете: Найти дистрибьютора или распространителя рядом с вами | Связаться с производителем для получения информации о расценках или сметы | Просмотреть характеристики и технические спецификации продукции самых известных марок | Просмотреть документацию и каталоги онлайн в формате PDF

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.

Сравнить

Удалить все сравниваемые товары

Сравнить до 10 товаров

Микроскопы для испытания материалов Leica

Производители

Типы

Применение

Эргономика

Головки микроскопа

Качество объективов

Методы наблюдения

Увеличение

Конфигурации

Источники света

Источники электронов

Источники ионов

Тип объектива

Типы детекторов

Опции и аксессуары

Пространственное разрешение

Вес

Длина

Ширина

Высота

Другие характеристики

магнитооптический микроскоп на основе эффекта Керра