Оптический профилометр Nexview™ LS650

3Dинтерферометрическийдля лабораторий

Метрологическая система Nexview™ 650 - это инспекционный инструмент для автоматизированных измерений литьевой оснастки, печатных плат, стеклянных панелей и других образцов, требующих увеличенного рабочего объема до 650 x 650 мм. Она обеспечивает 2D и 3D измерения различных характеристик поверхности с субнанометровой вертикальной точностью и субмикронной боковой точностью. Мощная производительность Когерентная сканирующая интерферометрия (CSI) - это технология измерения, лежащая в основе системы Nexview™ 650. Эта бесконтактная технология обеспечивает высокоточную и ценную метрологию поверхности, включая: - Измерение практически всех типов поверхностей, от шероховатых до сверхгладких, включая тонкие пленки, крутые склоны и большие ступени. - Субнанометровая точность измерений не зависит от увеличения поля - Производительность, обеспечиваемая калибром, - исключительная точность и повторяемость для самых сложных производственных задач. - Технология устойчивости к вибрациям SureScan™ - надежная работа практически в любых условиях. - Программное обеспечение Mx™ обеспечивает беспрепятственный обмен данными с другими профилометрами ZYGO, включая ZeGage™ Pro, NewView™ 9000 и Nexview™ NX2.