Оптический микроскоп Axio Imager 2
для исследованийпромышленныйдля материалов

оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
оптический микроскоп
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
оптический
Применение
для исследований, промышленный, для материалов
Метод наблюдения
конфокальный с лазерным сканером
Другие характеристики
автоматизированный, модульный, механизированный
Увеличение

МАКС.: 100 unit

МИН.: 1 unit

Вес

18 kg, 40 kg
(39,7 lb, 88,2 lb)

Длина

721 mm
(28,4 in)

Ширина

300 mm, 390 mm
(11,8 in, 15,4 in)

Высота

505 mm
(19,9 in)

Описание

Открытая микроскопическая система для автоматизированного анализа материалов Если вы проводите передовые исследования материалов, внедрите простоту использования в рабочий процесс световой микроскопии. Получите точные и воспроизводимые результаты с помощью ZEISS Axio Imager 2 для материалов. Выберите систему, соответствующую вашим задачам. Расширьте свой прибор специализированными решениями, например, для анализа частиц, конфокальной или корреляционной микроскопии. Воспроизводимые результаты Модульная конструкция Высокие оптические характеристики Воспроизводимые результаты Работайте в условиях отсутствия вибраций Стабильность очень важна, если вы хотите получить хорошие результаты. Оцените стабильные условия визуализации Axio Imager 2, особенно при работе с большим увеличением или при проведении исследований, зависящих от времени. Благодаря моторизации Axio Imager 2 можно получить быстрые и воспроизводимые результаты, работая в постоянных условиях. Модульная конструкция Повышенная гибкость Будь то академические или промышленные исследования, микроскопия материалов сталкивается с различными проблемами. С Axio Imager 2 вы сможете решить эти задачи и победить их. Присоединяйте компоненты, специфичные для конкретного применения, и выполняйте, например, анализ частиц. Исследуйте неметаллические включения (NMI), жидкие кристаллы или МЭМ на основе полупроводников. Расширьте свой прибор специализированными решениями для конфокальной или корреляционной микроскопии.

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги ZEISS Métrologie industrielle

Другие изделия ZEISS Métrologie industrielle

Systems

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.