- Метрология - Лабораторное дело
- Лабораторное Оборудование
- Микроскоп с рентгеновским излучением
- ZEISS Industrial Metrology
Микроскоп с рентгеновским излучением ZEISS Xradia 800 Ultraдля лабораторий3Dультравысокое разрешение
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Тип
- с рентгеновским излучением
- Применение
- для лабораторий
- Метод наблюдения
- 3D
- Другие характеристики
- ультравысокое разрешение
- Пространственное разрешение
50 nm
Описание
Революционный рентгеновский микроскоп Xradia 800 Ultra сочетает в себе высокопотоковый лабораторный рентгеновский источник с высокоспециализированной и запатентованной рентгеновской оптикой для создания автономного рентгеновского микроскопа сверхвысокого разрешения для компьютерного сканирования, сокращая разрыв между существующими методами визуализации высокого разрешения (SEM, TEM или AFM) и оптической или традиционной микроскопией.
---
Каталоги
Для этого товара не доступен ни один каталог.
Посмотреть все каталоги ZEISS Industrial MetrologyСалоны
Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)
Другие изделия ZEISS Industrial Metrology
X-ray microscopes
Расширенный поиск
- Микроскоп
- Оптический микроскоп
- Микроскоп для лабораторий
- Микроскоп для контроля
- Микроскоп с цифровой камерой
- Микроскоп со светодиодным освещением
- Микроскоп для измерений
- Поляризационный микроскоп
- Микроскоп для анализов
- Стереомикроскоп
- Оптический стереомикроскоп
- Прямой микроскоп
- Переносной микроскоп
- Оптоцифровой микроскоп
- Микроскоп высокое разрешение
- Автоматический микроскоп
- Промышленный микроскоп
- Компактный микроскоп
- Металлографический микроскоп
- Микроскоп для испытания материалов
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.