Автоматизированный интерферометр WaveMaster® PRO 2 / PRO 2

с делением волнового фронта

Требования к качеству и эффективности, предъявляемые к массовому производству небольших пластиковых или стеклянных линз, оптических окон постоянно растут. Использование технологии измерения волнового фронта в массовом производстве может дать большой потенциал для оптимизации. Пластины WaveMaster® PRO 2 & PRO 2 устанавливают новые стандарты в серии испытаний оптики и оптических пластин. При типичном времени измерения 2 секунды на каждую оптику и быстрой смене лотка или пластинки создаются предпосылки для использования в массовом производстве. Что касается измерительной техники, WaveMaster® PRO 2 & PRO 2 Wafer с помощью датчика Shack-Hartmann определяет волновой фронт, на основе которого определяются различные параметры. Затем выполняется сравнение с проектными данными для каждого объектива. Очень хороший пул данных для дополнительной оптимизации производства. Основные характеристики Продолжительность измерения: менее 2 секунд на объектив Полностью автоматическое измерение большого количества образцов (подложек или предварительно загруженных лотков) Критерии PASS и FAIL по выбору пользователя Измерение абсолютного или относительного волнового фронта Полный анализ волнового фронта (PV, RMS, Zernike, PSF, MTF, Strehl) Доступно в двух вариантах конфигурации Установка для измерения сферических и асферических линз (одиночных или пластинчатых) Установка для измерения плоских поверхностей (одиночная поверхность или пластина) Экспорт всех результатов измерений для каждой отдельной линзы Вариант: Интегрированная измерительная система для измерения ориентации полупроводниковых пластин, общего угла наклона и угла наклона полупроводниковых пластин