Это новая система оптической интерферометрии, не ограниченная точностью оптических элементов или измеряемого объекта, основанная на том, что статистика поля рассеяния (лазерных спеклов), возникающего при облучении лазером шероховатой поверхности объекта, является абсолютно случайной в статистическом смысле.
Ожидаемые применения
- Анализ работы микромеханических компонентов, таких как МЭМС
- Области применения, где тензометрические датчики неприменимы (измерение характеристик деформации и тепловой деформации полимерных материалов и микросоединений)
- Биологические образцы (измерение сверхкороткого времени поведения роста растений, высокоточный мониторинг роста культур на фабриках, определение оптимальных условий выращивания)
- Экологические измерения (оценка состояния окружающей среды с помощью живых организмов)
Характеристики
- Высокая точность измерений - возможны измерения субнанометрового порядка (система измерений определяется только количеством используемых точек данных)
- Бесконтактное, неинвазивное измерение
- Простая оптическая система
- Для измерения не требуется абсолютная точка отсчета (можно использовать любые две точки)
Лазер - Длина волны: 660 нм
Максимальная мощность: 90 мВт
Эквивалент класса 3B
Диаметр лазерного луча - около 1,0 мм
Интервал между лазерными лучами - Приблизительно 3,0 мм
Точность измерения - ±1.0nm
ПК и программное обеспечение - поставляются в качестве стандартных аксессуаров
Частота кадров - 2 кадр/с
Электропитание - Однофазное, AC100V, 50/60Hz, 5A
Размеры - - W240 × D200 × H280 мм (основной блок)
- W390 × D320 × H200 мм (блок управления)
Вес (прибл.) - - 5 кг (основной блок)
- 6 кг (блок управления)
---