Испытательная система для полупроводников Magnum V

автоматическая

Система Magnum V от Teradyne обеспечивает высокую пропускную способность и высокую эффективность параллельного тестирования для тестирования NAND Flash и DRAM памяти ультравысокой производительности. - Высокая пропускная способность и эффективность параллельного тестирования - Разработана для тестирования NAND Flash и DRAM памяти ультравысокой производительности Ключевые особенности: - Поддерживает передовые устройства памяти NAND Flash и DRAM - Оптимизирована для производственных сред с высоким объемом - Масштабируемая архитектура для будущих технологий памяти - Высокий параллелизм для максимизации эффективности тестовых ячеек - Комплексное тестовое покрытие для продуктов памяти следующего поколения Применение: - Тестирование памяти NAND Flash - Тестирование памяти DRAM Технические характеристики: - Система: Magnum V - Типы тестов: NAND Flash, DRAM - Высокая пропускная способность и параллелизм - Масштабируемость для будущих технологий памяти