Испытательная машина температуры HS-LDTS2000

качестварабочих характеристикавтоматическая

HS-LDTS2000 — оптоэлектронный тестер производительности LD-чипов, разработанный для производственной среды для оценки лазерных чипов длинной волны при контролируемых условиях нормальной и высокой температуры. Он интегрирует автоматизированную подачу и интеллектуальную обработку изображений для обеспечения высокопроизводительного контроля качества.

Основные функции

• Автоматизированный процесс подачи и тестирования
• AOI-инспекция внешнего вида и OCR-распознавание символов для лицевой и торцевой сторон
• Высокая пропускная способность тестов

Области применения

• Фотоника
• Силовые приборы
• Микроволновые RF-устройства
• Сектор автомобилей на новых источниках энергии

Преимущества

• Собственная платформа управления температурой с высокой точностью регулирования, подходящая для испытаний при нормальной и высокой температуре
• Высокоточная система визуального контроля с поддержкой повторной инспекции для обеспечения стабильности качества продукции
• Совместимость подачи — поддерживает 2" GEL-PAK и 6" wafer ring
• Вращающийся стол с отдельными синхронизированными рабочими позициями для повышения производительности

Характеристики / Технические спецификации

• Возможности тестирования: параметры LIV и спектральные параметры переднего и заднего свечения лазерных чипов длинной волны при нормальных и высоких температурных условиях
• Методы / процесс тестирования: фотоэлектрическое тестирование LD-чипов (фотоэлектрические характеристики и спектральные измерения)
• Область продукции: LD-чипы
• Диапазон размеров чипа: минимум 0,15 x 0,2 мм; максимум 10,0 x 10,0 мм
• Эффективность оборудования: примерно 4,5–6 S/PCS (в зависимости от конкретного тестового применения)