Рентгеновский дифрактометр Xstress G2 представляет собой достижения в области дизайна и конструкции, которые обеспечивают повышенную надежность и функциональность действительно портативного анализатора остаточных напряжений и сохранившегося аустенита.
- Неразрушающий
- Подходит для использования в лабораторных, заводских и полевых условиях
- Быстрая сборка, готовность к работе через 10 минут
- Легкая замена рентгеновской трубки (Cr, Cu, Co, Fe, V, Ti, Mn), что позволяет измерять различные материалы
- Расстояние измерения 50 мм
- Два NMOS позиционно-чувствительных детектора
- Мгновенно регулируемый угол 2θ
- Программное обеспечение XTronic для проведения измерений и расчета остаточных напряжений и содержания аустенита (опция)
- Режимы измерения d-sin²χ и Ω в стандартной комплектации
Характеристики
- Два симметрично расположенных NMOS позиционно-чувствительных детектора
- стандартная ширина детектора 15°
- для других детекторов см. опции
- 2θ-диапазон детекторов
- плавная регулировка в пределах от 110° до 165°
- меньшие углы как опция со специальными детекторными дугами
- Стандартное расстояние измерения 50 мм
- Сменные коллиматоры
- размеры пятна 1/2/3/4/5 мм
- специальные коллиматоры поставляются в качестве опции
- Рентгеновская трубка
- Cr-трубка в стандартной комплектации: макс. мощность 30 кВ/9 мА/270 Вт
- Основной блок Xstress (генератор высокого напряжения)
- источник питания рентгеновского излучения 5-30 кВ/0-10 мА, свободно регулируемый в заданных пределах
- автономная система жидкостного охлаждения
- включает все блокировки, необходимые для обеспечения полной безопасности
- универсальный вход питания
---