Прибор для измерения напряжение ModuLab XM MTS

токаимпедансаэлектрического поля

Система ModuLab® XM MTS последнего поколения разработана с учетом модульности и гибкости, что позволяет использовать ее в широком спектре применений. Предназначен для испытаний материалов, проводимых ModuLab XM: - I-V (сканирование напряжения с измерением тока - используется для характеристики электронных и диэлектрических материалов) P-E (поляризация / электрическое поле - используется для проведения испытаний на гистерезис для характеристики ферроэлектрических материалов) - Высокоскоростной импульс (используется для активации носителей заряда в электронных и диэлектрических материалах) - Лестничная клетка и плавные бесступенчатые аналоговые сигналы рампы - Импеданс, вход, диэлектрическая проницаемость / емкость, электрический модуль - Емкость C-V - напряжение, Mott-Schottky - Автоматическое определение последовательности во временной области и измерение импеданса/емкости ModuLab XM MTS способен автоматически выполнять последовательность всех вышеперечисленных методов активации и анализа носителей заряда без изменения соединений образца. Управление температурой также встроено в программное обеспечение через криостаты, печи и зондовые станции.