Испытательная камера с ксеноновой дуговой лампой SM-A-SUN

светдля старениядля контроля качества

Испытательная камера ксеноновой лампы с настольной вершиной Маленькая, простая и экономичная испытательная камера для выветривания ксеноновых ламп. В ней используется ксеноновая лампа с низким энергопотреблением и воздушным охлаждением для получения достаточно большой энергии облучения в небольшом пространстве. Более того, с помощью специальной катоптрической системы, обеспечивающей гомогенное распределение облучения для каждого образца, подвергшегося экспозиции. Оснащенные расширенными фильтрами УФ-излучения, таким образом, позволяют УФ-излучению, которое ниже нормального уровня естественного солнечного света на pass（equal, имитировать солнечный свет, который не попадает на atmosphere）. Они используются для получения более быстрых или более строгих результатов испытаний. Этот тест называется "Тест на искусственную ускоренную погоду" Оператор может установить все необходимые параметры тестирования （Irradiance, время тестирования, BPT etc）through на сенсорном экране, а также может в любой момент проверить состояние его работы. Все запущенные параметры можно экспортировать на компьютер через интерфейс USB. Испытательная камера с настольной ксеноновой лампой Принцип испытания Испытательная камера выветривания ксеноновых ламп на стенде Искусственное выветривание покрытий или облучение покрытий отфильтрованным ксенонодуговым излучением осуществляется с целью получения степени изменения выбранного свойства после определенного радиационного облучения Н и/или радиационного облучения, которое необходимо для получения определенной степени старения. Предпочтительно, чтобы выбранные для мониторинга свойства были теми, которые имеют важное значение для практического использования покрытий. Свойства облученных покрытий сравниваются со свойствами необлученных покрытий, приготовленных из одних и тех же материалов покрытия в одно и то же время и тем же способом (контрольные образцы) или с свойствами покрытий, облученных в одно и то же время, поведение которых во время испытаний в облучающем устройстве уже известно (эталонные образцы).