Микроскоп с рентгеновским излучением SEM-Raman

для анализовна местенастольный

SEM-Raman обеспечивает комплексную характеристику образца in situ в одной системе. Сочетание этих двух технологий позволяет повысить удобство, эффективность и производительность. Интерфейс структурно-химического анализатора (SCA) компании Renishaw переносит возможности точечных измерений и картирования рамановских микроскопов inVia™ на сканирующие электронные микроскопы (SEM). Раман + СЭМ Микроскоп inVia и интерфейс SCA обеспечивают аналитическую методику внутри РЭМ, которая дополняет рамановскую спектроскопию на основе светового микроскопа и преодолевает ограничения энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS), традиционной аналитической методики внутри РЭМ. Система SEM-Raman компании Renishaw позволяет проводить совместный морфологический, элементный, химический, физический и электронный анализ. Используйте РЭМ для получения изображений образца с высоким разрешением и проведения элементного анализа. Добавьте возможности комбинационного рассеяния света для получения химической информации и изображений. Идентифицируйте материалы и неметаллы, даже если они имеют одинаковую стехиометрию. SCA и inVia полностью совместимы не только с рамановским, но и с фотолюминесцентным (ФЛ) и катодолюминесцентным (КЛ) спектроскопами. Рентгеновский анализ аллювиальных отложений Рентгеновский анализ россыпных месторождений Одна комбинированная система для анализа в одном месте Одна комбинированная система позволяет сэкономить драгоценное время. Вам не нужно перемещать образцы между двумя приборами и рисковать анализом не той области образца. И микроскоп inVia, и SEM могут одновременно работать как отдельные системы, не снижая производительности ни одной из них. У вас есть рамановская система, система SEM и комбинированная рамановская система-SEM.