- Краткое описание: 3648-пиксельная полоса, 16 бит вертикального разрешения
- Простота использования: полное встроенное образовательное программное обеспечение
- Готовность к использованию: программное обеспечение, фильтры и возможность подключения прилагаются
Это устройство позволяет изучать интенсивность света, поступающего на ПЗС-матрицу, в зависимости от положения (в пикселях или мм) или с течением времени.
Непосредственные результаты:
- Подключите прибор и сразу же получите результат.
- Простота в использовании и практичность:
. Встроенные помощники во время выполнения манипуляций
. Доступные и мощные функции
. Возможность сохранения данных во внутренней памяти
. Мгновенная настройка фильтров с помощью системы Clix
Высококачественные результаты:
. 16-битный динамический диапазон, обеспечивающий 65536 уровней точности
. Высокая стабильность сигнала
. Точность ваших измерений: 1 пиксель каждые 0,8 мкм
Прямое сравнение с теорией:
. Графическое и численное моделирование
. Предопределенные модели: кардинальный синус, щели Юнга
Построено надолго:
. Чрезвычайно прочная металлическая конструкция
. 5 лет гарантии!
Высокое разрешение датчика ограничивает насыщение и шумовые явления. Таким образом, в дифракционных и интерференционных лабораториях можно визуализировать вторичные лепестки без насыщения основного лепестка.
Встроенное программное обеспечение упрощает использование оборудования и позволяет сосредоточиться на экспериментах.
Оно автоматически устанавливается на компьютер при подключении датчика.
Сбор данных осуществляется в двух режимах:
- Интенсивность как функция положения, например, для дифракционных и интерференционных лабораторий
- Интенсивность как функция времени для определенного участка датчика
Затем доступны многочисленные инструменты для обработки полученных кривых: указатель, моделирование, электронная таблица, отчет ...
---