OSTEC предлагает модульную конструкцию серии NIOS, которая позволяет конечным пользователям настраивать наномеханический тестер специально под свои нужды и требования. Конфигурации наномеханического тестера NIOS могут состоять из следующих модулей:
- Широкий диапазон наноиндентификаторов
- Оптический микроскоп
- Атомно-силовой микроскоп
- Сканирующий наномеханический тестер
- Измерение электрических свойств
- Датчик боковой силы
- Топографическое изображение на месте
- Отопительная стадия
- Конфокальный оптический профилировщик
NIOS Advanced является флагманской моделью, в которой реализовано более 30 различных методов измерения, охватывающих широчайший спектр измерений физических и механических свойств в субмикронном и нанометрическом масштабе.
Возможности и режимы работы головки для отпечатков инденторов расширены за счет функциональности АСМ, позволяющей исследовать отпечатки инденторов с нанометрическим разрешением. Система обеспечивает возможность автоматизированного тестирования и пакетной обработки данных
Все измерения NIOS проводятся в открытой среде (т.е. без использования специальной вакуумной или термической обработки). Приборы NIOS сконструированы с учетом особенностей и функциональных возможностей, что позволяет использовать их для научно-исследовательских и промышленных целей.
---