OSTEC предлагает модульную конструкцию серии NIOS, которая позволяет конечным пользователям настраивать наномеханический тестер специально под свои нужды и требования. Конфигурации наномеханического тестера NIOS могут состоять из следующих модулей:
- Широкий диапазон наноиндентификаторов
- Оптический микроскоп
- Атомно-силовой микроскоп
- Сканирующий наномеханический тестер
- Измерение электрических свойств
- Датчик боковой силы
- Топографическое изображение на месте
- Отопительная стадия
- Конфокальный оптический профилировщик
Стандарт NIOS включает методы измерения твердости, модуля упругости (и других механических параметров). В приборе также реализованы методы царапания, статического и динамического вдавливания. Данная модель обеспечивает возможность полуконтактного профилирования рельефа поверхности. Оптический микроскоп обеспечивает высокую точность позиционирования индентора и образца
Специальная модификация прибора NIOS Standard может быть оснащена трехосным гетеродинным интерферометром, используемым для применения в нанометрологии линейных перемещений.
Все измерения NIOS проводятся в открытой среде (т.е. без использования специальной вакуумной или термической обработки). Приборы NIOS сконструированы с учетом особенностей и функциональных возможностей, что позволяет использовать их в научно-исследовательских и промышленных целях.
---