Комплект инфракрасного микроскопа PI 640i с 2-кратным увеличением - это решение для инженеров, которым требуются точные данные о температуре небольших электронных устройств или микроэлектромеханических систем (МЭМС). Этот комплект позволяет пользователям визуализировать тепловые колебания и проводить измерения на мельчайших объектах, что зависит от разрешения детектора. Оптика системы фокусирует инфракрасную тепловую энергию от устройства на детекторные элементы ИК-камеры, обеспечивая точный и детальный тепловой анализ небольших компонентов.
Инженеры часто сталкиваются с расхождениями между результатами измерений температуры, полученными с помощью контактных термопар, и результатами, полученными с помощью правильно оснащенной инфракрасной камеры, особенно при работе с небольшими объектами. Такое расхождение обычно возникает из-за эффекта теплового моста в соединении термопары, который проводит тепло и влияет на точность измерений. В таких случаях бесконтактные тепловизоры обычно дают более точные результаты, поскольку позволяют избежать проблем с теплопроводностью, связанных с контактными методами.
Как и в микроскопах, работающих в видимом спектре, выбор подходящей оптики предполагает компромисс между общим полем зрения и наименьшим объектом, требующим наблюдения и измерения. Самый высокопроизводительный объектив микроскопа PI 640i способен обнаруживать изменения температуры на объектах размером до 8 мкм в поле зрения 5,4 мм x 4,0 мм. Интеграция ИК-камеры высокого разрешения с разработанными в Германии объективами для инфракрасных микроскопов и прецизионной монтажной ступенью позволяет точно регулировать рабочее расстояние, обеспечивая точный и детальный тепловой анализ крошечных компонентов.
---