Металлографический микроскоп B-383MET

металлографическийпрямойсо светлым фоном

Вертикальный микроскоп Brightfield с объективами IOS W-PLAN MET и металлургической насадкой, сочетающий эксклюзивный источник освещения X-LED³ как для падающего, так и для проходящего света. Объективы NCG (без покровного стекла) специально разработаны для микроскопии без покровного стекла, идеально подходящего для металлографических образцов и других непрозрачных образцов. Режим наблюдения: Брайтфилд, падающий поляризованный свет. Эпи-иллюминационный и поляризационный фильтры: X-LED3 с белым светодиодом мощностью 3,6 Вт (6,300 К) с регулировкой яркости. Полевая и апертурная диафрагмы, поляризационный и анализирующий фильтры. Головка: тринокулярная (фиксированная 50/50), наклонная 30°, вращающаяся 360°. Межзрачковое расстояние: Регулируется в диапазоне от 48 до 75 мм. Диоптрийная коррекция: На левом окулярном тубусе. Окуляры: WF10x/20 мм, с высокой наглазником и винтовым креплением. Носовая насадка: Пятикратная вращающаяся носовая насадка, вращение на шарикоподшипниках. Объективы (без деформации): IOS W-PLAN MET 5x/0,12 IOS W-PLAN MET 10x/0,25 IOS W-PLAN MET 20x/0.40 IOS W-PLAN MET 50x/0,75 Все с противогрибковой обработкой. Штатив для образцов: Двухслойный бесстоечный механический штатив, 233×147 мм, диапазон X-Y 78×54 мм. С пластиной из закаленного стекла. Фокусировка: Коаксиальный механизм грубой (с регулируемым натяжением) и точной фокусировки механизм коаксиальной грубой (с регулируемым натяжением) и тонкой фокусировки с ограничителем, предотвращающим контакт между объективом и образцом. Конденсор: Аббе N.A. 1,25, с ирисовой диафрагмой с объективным кодированием, фокусируемый и центрируемый. Передаваемая подсветка (фиксированная типа Koehler): X-LED3 с белым светодиодом мощностью 3,6 Вт (6.300 К) с регулировкой яркости. Многоштекерный внешний источник питания 100-240 В переменного тока/6 В постоянного тока.