интерферометрическая измерительная система / бесконтактная
BW-S507

Добавить в папку «Избранное» на MyDirectIndustry
Добавить к сравнению Удалить из сравнения
интерферометрическая измерительная система / бесконтактная интерферометрическая измерительная система / бесконтактная - BW-S507
{{requestButtons}}

Характеристики

  • Физическая величина:

    интерферометрическая

  • Другие характеристики:

    бесконтактная

Описание

Точный субнанопрофилограф с бесконтактными измерениями
Запатентованная компанией Nikon технология измерения оптических помех сканирования позволяет достичь разрешения 1 пикометр (pm) по высоте. Компания Nikon предлагает широкий спектр оптических микроскопов в качестве измерительных систем для решения широкого спектра измерительных задач.

Это автоматический перевод.  (просмотреть оригинал на английском языке)

Другие изделия Nikon Engineering

Industrial Metrology