Прибор для измерения толщина NanoTR

теплопроводностидля потерь отражениемэлектронный

Метод определения теплопроводности в нанометровом диапазоне толщин В связи со значительным прогрессом в разработке электронных устройств и связанной с этим необходимостью эффективного терморегулирования, точные измерения теплопроводности/теплопроводности в нанометровом диапазоне становятся как никогда важными. Национальный институт передовой промышленной науки и технологии (AIST), Япония, уже отреагировал на требования промышленности, разработав в начале 90-х годов "метод терморефлектометрии с импульсным световым нагревом". Корпорация PicoTherm была основана в 2008 году и выпустила нано-секундный терморефлектометрический прибор "NanoTR" и пикосекундного терморефлектометрического прибора "PicoTR", которые позволяют проводить абсолютные измерения теплопроводности тонких пленок в диапазоне толщин от нескольких 10 мкм до нанометрового диапазона. В октябре 2020 года компания PicoTherm присоединилась к группе NETZSCH в качестве дочерней компании NETZSCH Japan. В сочетании с нашими системами LFA NETZSCH теперь может предложить решение для тонких пленок в нанометровом диапазоне вплоть до сыпучих материалов в диапазоне мм. В связи со значительным прогрессом в разработке электронных устройств и связанной с этим необходимостью эффективного терморегулирования, точные измерения теплопроводности/теплопроводности в нанометровом диапазоне становятся как никогда важными. Национальный институт передовой промышленной науки и технологии (AIST), Япония, уже отреагировал на требования промышленности, разработав в начале 90-х годов "метод терморефлектометрии с импульсным световым нагревом".