Прибор для измерения толщина NanoTR
теплопроводностидля потерь отражениемэлектронный

Прибор для измерения толщина - NanoTR - NETZSCH Analyzing & Testing - теплопроводности / для потерь отражением / электронный
Прибор для измерения толщина - NanoTR - NETZSCH Analyzing & Testing - теплопроводности / для потерь отражением / электронный
Прибор для измерения толщина - NanoTR - NETZSCH Analyzing & Testing - теплопроводности / для потерь отражением / электронный - изображение - 2
Прибор для измерения толщина - NanoTR - NETZSCH Analyzing & Testing - теплопроводности / для потерь отражением / электронный - изображение - 3
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Измеряемая величина
толщина, теплопроводности, для потерь отражением
Технология
электронный, лазерный, термический, с импульсной лампой
Применение
промышленный

Описание

Метод определения теплопроводности в нанометровом диапазоне толщин В связи со значительным прогрессом в разработке электронных устройств и связанной с этим необходимостью эффективного терморегулирования, точные измерения теплопроводности/теплопроводности в нанометровом диапазоне становятся как никогда важными. Национальный институт передовой промышленной науки и технологии (AIST), Япония, уже отреагировал на требования промышленности, разработав в начале 90-х годов "метод терморефлектометрии с импульсным световым нагревом". Корпорация PicoTherm была основана в 2008 году и выпустила нано-секундный терморефлектометрический прибор "NanoTR" и пикосекундного терморефлектометрического прибора "PicoTR", которые позволяют проводить абсолютные измерения теплопроводности тонких пленок в диапазоне толщин от нескольких 10 мкм до нанометрового диапазона. В октябре 2020 года компания PicoTherm присоединилась к группе NETZSCH в качестве дочерней компании NETZSCH Japan. В сочетании с нашими системами LFA NETZSCH теперь может предложить решение для тонких пленок в нанометровом диапазоне вплоть до сыпучих материалов в диапазоне мм. В связи со значительным прогрессом в разработке электронных устройств и связанной с этим необходимостью эффективного терморегулирования, точные измерения теплопроводности/теплопроводности в нанометровом диапазоне становятся как никогда важными. Национальный институт передовой промышленной науки и технологии (AIST), Япония, уже отреагировал на требования промышленности, разработав в начале 90-х годов "метод терморефлектометрии с импульсным световым нагревом".

Салоны

Вы сможете встретиться с этим поставщиком на выставке(-ах)

K-Messe	2025
K-Messe 2025

8-15 окт. 2025 Düsseldorf (Германия)

  • Дополнительная информация
    * Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.