Атомно-силовая микроскоп Flex-Axiom
для измерения шероховатости поверхностидля контроля поверхностидля испытания материалов

атомно-силовая микроскоп
атомно-силовая микроскоп
атомно-силовая микроскоп
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
атомно-силовая
Применение
для измерения шероховатости поверхности, для контроля поверхности, для испытания материалов, биомедицинский, многоцелевой
Конфигурация
настольный
Другие характеристики
модульный, для топографии, для термического анализа, для использования в воздухе или в жидкости, ультравысокое разрешение
Пространственное разрешение

МИН.: 3 µm

МАКС.: 100 µm

Описание

Самый гибкий атомно-силовой микроскоп для исследования материалов Самая гибкая из доступных сканирующих головок Подходит для любого размера выборки Модульная концепция: настройте ваш FlexAFM в точном соответствии с вашими потребностями Для достижения успеха в исследованиях материаловедения ученые полагаются на профессиональные инструменты, которые могут легко предоставить необходимую информацию, независимо от стоящих перед ними задач. Продвигая ключевые технологии и разработки, Nanosurf сделал Flex-Axiom одним из самых универсальных и гибких AFM, позволяя легко работать с широким спектром материаловедческих приложений. В сочетании с мощным контроллером C3000 возможны сложные характеристики материалов.

---

Каталоги

Nanosurf Flex-Axiom
Nanosurf Flex-Axiom
8 Страницы
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.