Прибор для контроля для полупроводниковой пластины 2 - 5 mm

прибор для контроля для полупроводниковой пластины
прибор для контроля для полупроводниковой пластины
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Применение
для полупроводниковой пластины

Описание

Система контроля краев пластин позволяет с высокой точностью измерить поверхность пластин с помощью трех камер обработки изображений. Таким образом, дефекты длиной более 300 нм надежно обнаруживаются. Неисправные пластины могут существенно повлиять на последующие этапы процесса и привести к остановке производства. Детали - Надежное обнаружение дефектов - 2 - 5 мм края пластины - система обработки изображений высокого разрешения - Обнаруживает частицы, трещины, царапины, точечные и плоские дефекты, дефекты травления, рост кристаллов, загрязнения и отклонения геометрии

---

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.