CT10, CT100 и CT1000 предназначены для проведения простых и точных тестов на ионное загрязнение в полном соответствии со стандартами MILP-28809, MIL-STD- 2000A, EF-STD 10/03, IPC-TR-583, IEC...
Эти меры необходимы для проверки чистоты печатных плат и сборок после очистки или в случае использования новых параметров процесса пайки (без очистки, конформное покрытие, бессвинцовый сплав с новым активатором...), для контроля качества и утверждения. Во влажной атмосфере ионное загрязнение превращается в электролит, в котором собираются подвижные ионы, способные вызвать сбои в работе электронных узлов (дендриты, плохая изоляция с токами утечки...).
Тест на ионное загрязнение укажет на эти риски, обезопасит соответствующим образом процесс сборки и увеличит срок службы и надежность конечного продукта. Процесс заключается в эффективной очистке образца с помощью химического раствора 2-пропанола и деионизированной воды (75/25 или 50/50) при непрерывном анализе развития загрязнения в очищающем растворе, протекающем в трубках с замкнутым циклом.
ПРИМЕРЫ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ
- Кейс STPI
- Случай AlbaPCB
СПЕЦИФИКАЦИИ
Контроль ионного загрязнения компонентов печатных плат и процессов (с/без очистки, с/без свинца)
Соответствие требованиям MIL, IPC, IEC...
3 комплектации, в зависимости от размера печатных плат:
CT 10 До 25 x 100 x 150 мм (мин. размер уникальной платы 20 см²)
CT 100 До 80 x 250 x 350 мм (мин. размер 100 см2)
CT 1000 До 120 x 500 x 660 мм (мин. размер уникальной платы 500 см2)
---