Опросное устройство для оптических датчиков ODiSI 7100

Опросное устройство для оптических датчиков - ODiSI 7100 - Luna Optoelectronics
Опросное устройство для оптических датчиков - ODiSI 7100 - Luna Optoelectronics
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Описание

Серия ODiSI 7100 - это инновационная измерительная система, специально разработанная для решения задач испытаний современных материалов и систем 21-го века. Серия ODiSI 7100 обеспечивает тысячи измерений деформации или температуры на метр одного оптоволоконного датчика высокой четкости. Данные сверхвысокого разрешения позволяют полностью отобразить контур деформации тестируемой структуры или непрерывный температурный профиль процесса в режиме реального времени. Датчик гибкий, низкопрофильный, не требует источника электроэнергии и может приклеиваться к резко изогнутым поверхностям, встраиваться в конструкции или монтироваться непосредственно на электрические поверхности. Система ODiSI фиксирует данные о деформации и температуре с непревзойденным пространственным разрешением и точностью, обеспечивая ценные преимущества для приложений измерения и управления: - Получение подробных данных, недоступных при использовании обычных точечных датчиков или других технологий волоконно-оптического зондирования - Получение данных в реальном времени в сложных условиях и труднодоступных местах Ключевые особенности Распределенное зондирование высокой четкости - тысячи измерений с субмиллиметровым шагом Многоканальная система реального времени с каждым каналом, поддерживающим до 100 м оптоволокна с датчиками высокой четкости Гибкие, легкие и простые в установке датчики сокращают время до первого измерения Пассивные диэлектрические датчики, устойчивые к коррозии, работают там, где другие датчики не могут - на изгибах, в углах, внутри материалов Длительный срок службы датчиков - без дрейфа и перекалибровки, количество циклов Области применения Определение деформации в новых материалах и сложных структурах Профилирование температуры in-situ для повышения эффективности критических процессов Измерение двух- и трехмерных полей деформации для проверки моделей FE

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Luna Optoelectronics
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.