Измерительная система геометрии WaferSight™ series
для полупроводниковой пластины без рисунка структуры

измерительная система геометрии
измерительная система геометрии
измерительная система геометрии
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Физическая величина
геометрии
Измеренное изделие
для полупроводниковой пластины без рисунка структуры

Описание

WaferSight™ Геометрические метрологические системы для голых пластин Система геометрической метрологии голых пластин WaferSight™ 2+ квалифицирует полированные и эпитаксиальные кремниевые пластины, а также спроектированные и другие усовершенствованные подложки для производителей пластин. Производя плоскостность полупроводниковых пластин, двухстороннюю нанотопографию и данные о скатывании кромок с высоким разрешением, WaferSight 2+ выдает данные, которые помогают производителям полупроводниковых пластин обеспечить серийное производство высококачественных подложек. Заявления Мониторинг и контроль технологического процесса пластин, контроль качества исходящих пластин

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги KLA - TENCOR
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.