Измерительная система геометрии WaferSight™ seriesдля полупроводниковой пластины без рисунка структуры
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Физическая величина
- геометрии
- Измеренное изделие
- для полупроводниковой пластины без рисунка структуры
Описание
WaferSight™
Геометрические метрологические системы для голых пластин
Система геометрической метрологии голых пластин WaferSight™ 2+ квалифицирует полированные и эпитаксиальные кремниевые пластины, а также спроектированные и другие усовершенствованные подложки для производителей пластин. Производя плоскостность полупроводниковых пластин, двухстороннюю нанотопографию и данные о скатывании кромок с высоким разрешением, WaferSight 2+ выдает данные, которые помогают производителям полупроводниковых пластин обеспечить серийное производство высококачественных подложек.
Заявления
Мониторинг и контроль технологического процесса пластин, контроль качества исходящих пластин
---
Каталоги
Для этого товара не доступен ни один каталог.
Посмотреть все каталоги KLA - TENCOR
Расширенный поиск
- Испытательная машина
- Измерительная машина
- Толщиномер
- Испытательная машина на удлинение
- Автоматическая измерительная машина
- Оптическая измерительная машина
- Испытательная машина растяжение сжатие
- Профилометр
- Измерительная машина высокой точности
- Измерительная машина с лазером
- Измерительная машина геометрии
- Стационарный толщиномер
- Пространственная измерительная машина
- Измерительная машина толщина
- Оптический профилометр
- Профилометр 3D
- Профилометр для промышленности
- Переносная измерительная машина
- Измерительная система режим реального времени
- Испытательная машина с высокой температурой
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.