Профилометр лазер VK-X4000

оптический3Dконфокальный

Обзор
Серия VK-X4000 — 3D оптический профильный микроскоп, объединяющий лазерный конфокал, интерферометрию белого света (WLI) и вариацию фокуса в единой метрологической платформе для бесконтактных высокоточных измерений поверхностей и топографии. Система поддерживает автоматизированные многоточечные процедуры и обнаружение нескольких признаков для повышения пропускной способности при минимальной настройке оператора.

Ключевые характеристики

• Три принципа измерения в одном приборе: лазерный конфокал, WLI и вариация фокуса для широкой применимости по материалам и геометриям.
• Автоматизированное многоточечное измерение: задавайте целевые координаты и увеличения для автоматических пакетных измерений без присмотра.
• Автоматическое измерение нескольких признаков: выявление целевых особенностей и автоматическое применение условий измерения для стабильных результатов.
• AI-Analyzer: оценивает десятки параметров поверхности и выделяет метрики, наиболее ясно различающие образцы, что ускоряет анализ.
• Высокая универсальность: подходит для металлов, пленок, пластмасс, полупроводниковых компонентов, медицинских деталей и других материалов.

Принципы измерения и сильные стороны

• Лазерный конфокал: эффективен для сложных форм и разнообразных материалов, обеспечивает локализованные 3D-данные на трудных геометриях.
• Интерферометрия белого света (WLI): обеспечивает субнанометровое вертикальное разрешение для очень тонких деталей поверхности и точных измерений толщины.
• Вариация фокуса: фиксирует тонкую текстуру на больших площадях и дополняет другие методы, когда прозрачность или наклон ограничивают их эффективность.

Многоточечные / автоматизированные измерения

• Настройка нескольких точек измерения путем выбора целей; система автоматически управляет позиционированием и выбором объективов.
• Выполнение пакетных измерений по нескольким образцам и областям без повторной ручной настройки, что сокращает время цикла и вариативность оператора.

AI-Analyzer / Анализ шероховатости
AI-Analyzer сравнивает многочисленные параметры поверхности (например, Ra, Rz и стандартные ISO-параметры), чтобы определить, какие параметры лучше всего различают образцы, упрощая выбор метрик шероховатости и ускоряя интерпретацию результатов.

Применение и преимущества

• 3D-профилирование поверхности и анализ шероховатости для электроники, прецизионного производства, пленок и покрытий, медицинских изделий, пластмасс и др.
• Обеспечивает инспекцию с высоким пропускным способом с воспроизводимыми автоматизированными процедурами для контроля качества и сравнительных исследований.
• Комбинирует дополняющие методы измерения для обработки практически любой поверхности — от гладких пленок до грубых сложных геометрий.

Технические характеристики

• Коммерческое обозначение: VK-X4000 series
• Принципы измерения: лазерный конфокал, интерферометрия белого света (WLI), вариация фокуса
• Вертикальное разрешение WLI: субнанометровое (для тонких деталей поверхности)
• Многоточечное измерение: автоматический выбор координат и пакетные измерения по образцам
• AI-Analyzer: автоматическое сравнение множества параметров поверхности для выявления ключевых различий
• Автоматическое измерение нескольких признаков: автоматическое применение условий измерения к обнаруженным признакам
• Подходящие материалы: металлы, пленки, пластмассы, полупроводниковые компоненты, медицинские детали и т.д.
• Основные случаи использования: 3D-профилирование поверхности, анализ шероховатости, оценка толщины пленки, сравнительный анализ поверхности, автоматизированная инспекция с высоким пропускным способом